光电效应实验仪型号：HAD-GD-1A

半导体激光器：光谱650nm；作电压：DC2.6V~3.2V；光电管作电压：DC-2V~30V；微电测量：20μA，200μA，2000μA；分辨率0.01μA；光率：量程2mW；分辨率0.001 mW；数字电压表：量程200V；分辨率0.1V；实验暗箱：460ⅹ105ⅹ90mm。

光电效应实验仪型号：HAD-GD-1A

2.活性炭粒度测定仪/活性炭粒度测试仪/活性碳粒度检测仪   型号:HAD-LD3

主要部件及主要参数:

测颗粒粒度测定仪的主要部件及参数

l         转速：150±2r/min

转轴偏心距：20 ±1mm

2.定时器

3.电压：220V    功率：0.5KW

3.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
电    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方块电阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直    径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.

4.多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，最大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）
电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直    径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可

5.自动表面/界面张力仪/表面张力仪 型号：HA/BZY-203

HA/BZY系列自动表面/界面张力仪除了升降系统是手动操作外，。具有高性能设计，经济型定位的特点，有着的性价比。

主要特征：
1. 铂金板或铂金环测试原理，操作简单方便；
2. 自动数字化测量，减少人为操作误差；
3. 全量程一键清零，瞬间完成，零位无漂移；
4. 全量程自动校正，数据准确可靠、重复性；
5. 铂金板测试时，显示值即为试样的表面/界面张力值，铂金环测试时，具有峰值保持功能，需通过Exce计算或通过数据处理软件自动换算成表面/界面张力值；
6. 仪器结构紧凑，独立工作。也可选配多功能数据处理软件，得到更多的信息；
7. 能测量试样的表面张力因时间不同而产生的变化（特别是有表面活性剂或含有挥发性物质时，限铂金板测试模式下）；
8. 自动量测中、高粘度液体样品并得到准确的平衡结果（限于铂金板测试模式）；
9. 可测量不相混合液体之间界面张力如：油/水界面； 
10.可取代传统机械式表面张力仪，且精度更高、重复性更好、使用更方便；
11.本系列仪器除了手动控制试样平台升降外，主要结构和技术参数与QBZY系列相仿，具有高品质设计、经济型价格，性价比特高。

以上参数资料与图片相对应