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H15324涡流测厚仪的详细资料:
涡流测厚仪 型号:H15324
H15324 型涡流测厚仪 是DP-ED300型测厚仪的改进型,仪器性能大幅度提高。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
H15324 型与型相比,具有如下特点:
*量程宽 H15324 型的量程达到0~500μm。
*精度高 H15324 型的测量精度达到2%。
*分辨率高 H15324 型的分辨率达到0.1μm。
*校正简便 只校正“0"和“50μm"两点,即可在全量程范围内保证设计精度。
*基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量
误差不大于1~2μm。
*可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性
提高。
*稳定性提高 采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器
校正一次可在生产现场长期使用。
*探头线寿命长 采用德国进口的,在德国测厚仪上使用的探头线,探头线寿命
可大大延长。
*探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延
长。
*探头可互换 外接式探头,探头损坏后,使用者可自行更换备用探头。仪器无
需返厂维修。
测量范围: 0~500μm
测量精度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可选)
使用温度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
2.引力常量实验仪 常量实验仪 型号:H15322
根据卡文迪许的扭称实验结构进行改进、小型化的仪器。用于演示观察物体之间存在相互作用力的现象,测量万有引力恒量G。
仪器参数:
可定性演示验证万有引力的存在,可定量测量引力常量G值,实验相对误差﹤5%。
3.可调电热板 型号:H15320
产品介绍:
用途概述:
适用于实验室、工矿企业、科研单位加热之用。
产品特点:
1、均采用封闭式加热,加热无明火。
2、采用可控硅无级调功,适用于不同加热温度。
3、外壳采用静电喷涂工艺,涂层牢固、美观。
4.光纤光栅传感实验仪 传感实验仪 实验仪 型号:H15313
光纤光栅传感实验仪包括光纤光栅测试单元和光纤光栅传感单元,并配有专用测试软件,计算机RS232接口。手动波长扫描,手工或计算机绘制光纤传感波形、波长峰值移动
量测量,进而测量出光纤光栅两大基本传感参量-温度及应变。本实验仪中,掺Er光纤ASE宽待光源和放大器可以独立使用。
主要特点:
美国进口掺Er光纤ASE宽带光源
波长范围:1525-1565nm(C波段)宽带光源和放大器可独立使用。
性能指标:
波长扫描方式:手动 记录方式:手动、自动 应变传感分辨率:<10με,范围:0~5000με
温度传感分辨率:<1℃,范围:室温~70℃
成套性:光纤光栅测试单元、光纤光栅传感单元
5.棉花水分仪 型号:H15312
测定原理:引进日本先进技术,采用高周波原理制成。根据被测物不同,设有多种测量转换开关。具有测量水分范围宽、精度高、体积小、重量轻、操作简便等特点,可在现场快速测定被测物水分。该仪器适用于测量棉花等水分。
★技术性能:
u测量水分范围:0~80%
u精 度:0%~10% 精度:±0.2%
10%~40% 精度:±0.5%
40%~80% 精度:±1%
u显示时间:1秒
u显 示:3½位LCD液晶数字显示
u探针长度:200mm
u温度补偿:-10℃~+100℃
u电 源:9V(6F22型)积层电池
FD-D型 |
u体 积:160mm×60mm×27mm
u重 量:200克
以上参数资料与图片相对应
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