恒奥德教您如何选购涂层测厚仪

测厚方法

磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量度。

涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法度低。

声波测厚法

内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但般价格昂贵、测量度也不。

电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，般度也不，测量起来较其他几种麻烦。

放射测厚法

此种仪器价格非常昂贵（般在10RMB以上），适用于些特殊场合

选型方法

用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。

两用型

体两用型

体两用型(4张)

仪器由德生产，集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的能，可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如：

* 钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。

* 铝、镁材料上阳氧化膜的厚度。

* 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。

* 铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。

* 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。

仪器符合家标准GB/T4956和GB/T4957，可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。

分体两用型

分体两用型(4张)

仪器特点

采用双能内置式探头，自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式行确测量。

符合人体程学设计的双显示屏结构，可以在何测量位置读取测量数据。

采用手机菜单式能选择方式，操作十分简便。

可设定上下限值，测量结果出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。

稳定性*，通常不校正便可长期使用。

术规格

量 程： 0～2000μm ,

电 源： 两节5号电池

标准配置

常规型

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关家和标准中称为覆层（coating）。

覆层厚度测量已成为业、表面程质量检测的重要环，是产品达到优等质量标准的手段。为使产品化，我出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者须遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的缘覆层测厚时采用。

随着术的日益步，特别是近年来引入微机术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多能、度、实用化的方向了步。测量的分辨率已达0.1微米，度可达到1%，有了大幅度的提。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是业和科研使用广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测作经济地行