HAD-Y2858系列 介电常数测试仪由频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对缘材料行低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。     

HAD-Y2858系列介电常数测试仪作频率范围是20Hz～1MHz,它能成作频率内对缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

HAD-Y2858系列中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器般用来夹被测样品，配用频阻抗分析仪作为示仪器。缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。

1 点：                            
◎ 频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～10⁵

2 主要标：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固体缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε和D变化的测试。

2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D测量度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

2.2频阻抗分析仪和数字电桥

2.3 HAD-Y916B 介电常数测试装置（含保护电）

2.3.1 平板电容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二种可选.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插头间距：与电桥四端配合

加温控温装置(选购设备)可以成200℃控温度l℃加热测试

HAD-Y918 介电常数测试装置提供四种不同直径测试电，能对直径φ10～56mm，

厚度<10mm的试样测量。它针对不同试样可设置为接触电法，薄膜电法和

非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

2.4.1 微分头分辨率：10μm

2.4.2 耐压：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 电缆长度设置：1m

2.4.4 使用频率：30MHz 

2.5 频介质样品（选购件）：
  在现行频介质材料检定系统中，检定为频介质损耗测量仪

提供的测量标准是频标准介质样品。该样品由人蓝宝石，石英玻璃，

氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。

用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。